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腔內(nèi)式X射線及真空紫外光譜CCD

更新:2024/2/20 15:43:16      點(diǎn)擊:
  • 產(chǎn)品品牌   Andor
  • 產(chǎn)品型號(hào)   DX420/440
  • 產(chǎn)品描述   Andor SX系列真空腔內(nèi)式光譜CCD探測(cè)器,采用背感光、前感光以及深耗盡型CCD芯片可以對(duì)軟X射線到真空紫外波段的光子進(jìn)行直接探測(cè)。...

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產(chǎn)品介紹

描述

Andor SX系列真空腔內(nèi)式光譜CCD探測(cè)器,采用背感光、前感光以及深耗盡型CCD芯片可以對(duì)軟X射線到真空紫外波段的光子進(jìn)行直接探測(cè)。芯片規(guī)格主要有1024*256以及2048*512兩種。為了保證探測(cè)的靈敏度,CCD探測(cè)器同樣采用半導(dǎo)體 深度制冷,制冷溫度低達(dá)-70°C。真空度可支持10 -5 mbar及更低。

主要特點(diǎn)

真空環(huán)境下使用:可放置在真空腔內(nèi),便于調(diào)節(jié)CCD與信號(hào)源之間的距離,優(yōu)化探測(cè)距離。

高量子效率探測(cè)器:峰值量子效率高達(dá)95%

高強(qiáng)度封裝信號(hào)線:電源線及PCI信號(hào)線采用高強(qiáng)度密封,能夠好的在真空等特殊環(huán)境下穩(wěn)定工作。

集成濾光片卡槽:方便直接安裝各種實(shí)驗(yàn)需要的濾光片

半導(dǎo)體深度制冷:保證探測(cè)靈敏度

技術(shù)參數(shù)

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