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單光子計(jì)數(shù)型X射線平板探測器

更新：2024/2/18 15:58:03      點(diǎn)擊：
  • 產(chǎn)品品牌   Dectris
  • 產(chǎn)品型號(hào)   EIGER，PILATUS3，MYTHEN
  • 產(chǎn)品描述   采用Hybrid Photon Counting技術(shù)，無讀出噪聲與暗噪聲，從而使信噪比達(dá)到優(yōu) ，75um的像元尺寸，保證了優(yōu)質(zhì)的空間分辨率...

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產(chǎn)品介紹

描述

Dectris公司的X射線檢測設(shè)備，采用其技術(shù)Hybrid Photon Counting，能夠?qū)崿F(xiàn)對(duì)X射線以單光子技術(shù)的形式直接檢測，并且采用了最小75um的像元，保證了良好的空間分辨率，其產(chǎn)品分為三個(gè)主要系列，即EIGER，PILATUS3，MYTHEN，能夠好的滿足科研與工業(yè)客戶的應(yīng)用。

產(chǎn)品特點(diǎn)

采用Hybrid Photon Counting技術(shù)

無讀出噪聲與暗噪聲，從而使信噪比達(dá)到極優(yōu)

最小75um的像元尺寸，保證了優(yōu)質(zhì)的空間分辨率

高計(jì)數(shù)率，能夠達(dá)到Count rates up to 5×108 phts/s/mm 2

EIGER能夠是實(shí)現(xiàn)室溫工作，無需制冷

探測器體積小巧，便于集成

應(yīng)用

X射線單晶衍射

X射線粉末衍射

小型和廣角X-射線散射

X射線成像

X射線表面衍射

X射線漫散射

X射線衍射

X射線結(jié)構(gòu)測定與細(xì)化

X射線物相分析

混合物X射線定量分析

時(shí)間分辨率的測量

殘余應(yīng)力分析

同步輻射小角X射線散射

X射線熒光光譜


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