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腔外X射線及真空紫外光譜CCD探測(cè)器

更新：2024/2/20 15:46:38      點(diǎn)擊：
  • 產(chǎn)品品牌   Andor
  • 產(chǎn)品型號(hào)   DO920P/940P
  • 產(chǎn)品描述   Andor Netwon SO系列光譜CCD探測(cè)器，專門針對(duì)X射線、極紫外、真空紫外光譜探測(cè)而設(shè)計(jì)。采用BN、FI或者DD系列芯片來(lái)滿足不同波段的探測(cè)需求。...

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產(chǎn)品介紹

描述

Andor Netwon SO系列光譜CCD探測(cè)器，專門針對(duì)X射線、極紫外、真空紫外光譜探測(cè)而設(shè)計(jì)。采用BN、FI或者DD系列芯片來(lái)滿足不同波段的探測(cè)需求。相機(jī)采用6英寸可旋轉(zhuǎn)刀口CF152真空法蘭，可輕易安裝到真空腔或者真空單色儀上使用。

主要特點(diǎn)

6寸CF152刀口真空法蘭

更高讀出速度，信號(hào)采集速度更高

半導(dǎo)體制冷溫度－100度，更低的噪聲

13.5um像元，更高的分辨率

Crop mode讀出模式，每秒高達(dá)上千幀的采集速度

 USB2.0數(shù)據(jù)接口

集成濾光片卡槽

技術(shù)參數(shù)

芯片類型

DO920

DO940

有效像素

1024 x 255

2048 x 512

像元尺寸

26 x 26 μm

13.5 x 13.5 μm

探測(cè)面尺寸

27.6 x 6.9

低制冷溫度

-100°C

光譜采集速度

1612幅每秒

讀出噪聲

2.8e-

暗噪聲

低至0.000007e-/s/pixel

 


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